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  • CI8化合物半導(dǎo)體SiC、GaN晶圓檢查裝置

    LODAS™ – CI8是列真株式會(huì)社推出的一款化合物半導(dǎo)體SiC、GaN晶圓檢查裝置。

    更新時(shí)間:2024-11-09
    型號(hào):CI8
    廠商性質(zhì):代理商
    瀏覽量:3354
  • UltraINSP 晶圓表面缺陷檢測(cè)系統(tǒng)

    UltraINSP晶圓表面缺陷檢測(cè)系統(tǒng)是表面缺陷檢測(cè)的蕞完善的國(guó)產(chǎn)化替代產(chǎn)品,系統(tǒng)包括四個(gè)模塊可以檢測(cè)所有晶圓表面并同步采集數(shù)據(jù):晶圓正面、背面、邊緣缺陷檢測(cè)模塊;輪廓、量測(cè)和檢查模塊;

    更新時(shí)間:2024-11-09
    型號(hào):
    廠商性質(zhì):代理商
    瀏覽量:1077
  • iFocus晶圓檢測(cè)系統(tǒng)

    iFocus是一款用于晶圓外觀缺陷檢測(cè)設(shè)備,利用STI的2D/3D視覺(jué)檢測(cè)系統(tǒng),采用雙2D Camera同時(shí)采集亮區(qū)和暗區(qū)照片分析特征缺陷;True 3D技術(shù),可以精確量測(cè)Bumping高度,Bumping共面性等特征??蛇m用于EWLB/CMOS/MEMS/LED/LENS/GLASS WAFER/GAS WAFER/COG等產(chǎn)品外觀檢測(cè)。

    更新時(shí)間:2024-11-09
    型號(hào):
    廠商性質(zhì):代理商
    瀏覽量:1438
  • LODAS™ – LI系列FPD Photomask缺陷檢查裝置

    LODAS™ – LI系列是列真株式會(huì)社推出的一款FPD Photomask缺陷檢查裝置。

    更新時(shí)間:2024-11-09
    型號(hào):LODAS™ – LI系列
    廠商性質(zhì):代理商
    瀏覽量:1287
  • LODAS™ – BI12GlassWafe缺陷檢查裝置

    LODAS™ – BI12是列真株式會(huì)社推出的一款GlassWafe缺陷檢查裝置。

    更新時(shí)間:2024-11-09
    型號(hào):LODAS™ – BI12
    廠商性質(zhì):代理商
    瀏覽量:1177
  • LODAS™ – BI8Photomask Blanks缺陷檢查裝置

    LODAS™ – BI8是列真株式會(huì)社推出的一款Photomask Blanks缺陷檢查裝置。

    更新時(shí)間:2024-11-09
    型號(hào):LODAS™ – BI8
    廠商性質(zhì):代理商
    瀏覽量:1372
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